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簡(jiǎn)單介紹:
日本sentec三維立體幾何測(cè)量系統(tǒng)ODC2500 ODC2600 odc1200,遮光の原理によってターゲットの形狀測(cè)定やエッジの位置測(cè)定をします。様々な測(cè)定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル?インターフェースによって出力されます
詳情介紹:
日本sentec三維立體幾何測(cè)量系統(tǒng)ODC2500 ODC2600
ジオメトリック寸法測(cè)定システム | ||
ODC2500 | ||
遮光の原理によってターゲットの形狀測(cè)定やエッジの位置測(cè)定をします。様々な測(cè)定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル?インターフェースによって出力されます。 |
ODC2600 | ||
optoCONTROLは寸法測(cè)定のため高精度CCDを內(nèi)蔵した測(cè)定裝置です。高速応答性、**した精度とすばらしい分解能は、生産ラインにおいて移動(dòng)する製品の検査において新しい水準(zhǔn)と価値を明確にします。optoCONTROL測(cè)定システムはターゲットの寸法を遮光によるエッジの位置で測(cè)ることが出來ます。様々なプログラムを選択可能で、デジタルインターフェースとアナログ出力を使用することが出來ます。 |
ODC1200 | ||
高速でワークの直徑、エッジ、すき間等を測(cè)定可能 |